Hotline: 0203 6550 246 / 0203 6550 246 / 0203 6550 246 CHÀO MỪNG BẠN ĐẾN VỚI CÔNG TY CỔ PHẦN VẬT TƯ THIẾT BỊ CÔNG NGHIỆP HAVI! Giỏ hàng 0
Kính hiển vi phân tích tia X XGT-9000

(Click vào để xem ảnh lớn)

Kính hiển vi phân tích tia X XGT-9000

Giá: Liên hệ Lượt xem: 12 Hàng mới

Model : XGT-9000

Hãng sản xuất : HORIBA ( JAPAN )

Kính hiển vi phân tích tia X (Micro-XRF)

Sự phát triển tiếp theo của quang phổ huỳnh quang vi-tia X
Hiệu suất cuối cùng về tốc độ và tính linh hoạt.

Kích thước đầu dò <15μm với cường độ cực cao mà không ảnh hưởng đến độ nhạy hoặc độ phân giải không gian
Camera độ phân giải cao và nhiều chế độ chiếu sáng để giúp chụp ảnh.
Các loại máy dò kép để truyền và tia X huỳnh quang
Phạm vi phần tử có thể phát hiện xuống carbon với máy dò phần tử nhẹ

Phân khúc: Khoa học
Phân chia: quang phổ huỳnh quang tia X-quang
Công ty sản xuất: HORIBA, Ltd.

Chi tiết sản phẩm

Tính năng nổi bật : 

  1.  Hoạt động phân tích đơn giản mà không cần chuẩn bị và phân tích không phá hủy.
  2. Có thể truy cập nhanh các điểm đo bằng cách quan sát quang học độ chính xác cao, thậm chí trong phạm vi hiển vi.
  3. Hoàn chỉnh với nhiều phần mềm phân tích hình ảnh khác nhau.
  4. Mapping hình ảnh rõ ràng và tốc độ cao
  5. Giảm thời gian phân tích tạo điều kiện thuận lợi cho công việc đo lường hiệu quả.
  6.  Các hình ảnh X-quang với rất ít tiếng ồn cho phép quan sát rõ ràng hơn.

Làm sáng tỏ quan sát hình ảnh quang học và chiếu xạ X-quang đồng trục
• Được trang bị ba loại ánh sáng: đồng điện, xung quanh và truyền đi. Kết hợp ánh sáng đồng và xung quanh cho phép quan sát rõ ràng các mẫu với các vùng không đều, phản chiếu, v.v.

• Tiếp xúc X-quang đồng trục, dọc và quan sát hình ảnh quang học ngăn chặn vị trí đo lường của các mẫu bị sai lệch.

Sử dụng công nghệ chụp ảnh dựa trên kỹ thuật chụp Raman
Nhấn mạnh một yếu tố nhất định như một điểm đặc trưng làm đơn giản việc phát hiện vật liệu lạ, chướng ngại vật v.v.

Thông số kỹ thuật :

 

Model

XGT-9000

XGT-9000SL

Basic information

Instrument

X-ray fluorescence analytical microscope

Sample type

Solids, Liquids, Particles

Detectable elements

C* – Am *with optional light elements detector (F – Am with standard detector)

Available chamber size

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

Maximum sample size

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

Maximum mass of sample

1 kg

10 kg

Optical observation

Two high resolution cameras with objective lens

Optical design

Vertical-Coaxial X-ray and Optical observation

Sample illumination/observation

Top, Bottom, Side illuminations/Bright and Dark fields

X-ray tube

Power

50 W

Voltage

Up to 50 kV

Current

Up to 1 mA

Target material

Rh

X-ray optics

Number of probes

Up to 4

Primary X-ray filters for spectrum optimization

5 positions

Detectors

X-ray Fluorescence detector

Silicon Drift Detector (SDD)

Transmission detector

NaI(Tl)

Mapping analysis

Mapping area

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

Step size

2 mm

4 mm

Operating mode

Sample environment

Full vacuum / Partial vacuum /
Ambient condition / He purged condition(Optional)

Partial vacuum / Ambient condition / He purged condition (optional)*
*He purge condition is necessary to detect down to carbon and fluorine for both detectors.

 

  • Kể từ khi thành lập năm 1953, HORIBA luôn giữ vững vị trí là nhà sản xuất hàng đầu thế giới về các thiết bị đo và phân tích cũng như cung cấp hàng loạt các thiết bị tối tân vào các thị trường trọng điểm bao gồm: ô tô, sản xuất chất bán dẫn, năng lượng, công nghệ sinh học, môi trường, y tế, dược và thực phẩm.
  • Nếu quý Công ty cần bất cứ thông tin gì về sản phẩm, xin vui lòng liên hệ ngay với chúng tôi, chúng tôi sẽ đáp ứng yêu cầu của Quý công ty trong thời gian nhanh nhất.
Đang online: 7
Hôm nay: 65
Hôm qua: 109
Tổng lượt truy cập: 13161
Gọi điện: 0203 6550 246
SMS: 0203 6550 246 Chat Zalo Chat Messenger